扫描电子显微镜(SEM)和X射线能谱仪(EDS)是现代材料分析领域比较常见的两种分析设备,基本上都是组合在一起使用的,功能非常强大,即能观察样品的表面形貌又能对微区进行成分分析。因为特征X射线主要从微米级深度射出,SEM-EDS技术用于成分分析时,属于体分析,SEM所用的加速电压一般20kV左右。因此,目前很少有人研究低加速电压下的SEM-EDS技术。本论文尝试使用更低的加速电压对材料进行分析,希望
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；
5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
虽然许多研究人员已经涉足纳米技术这个领域的工作,但还有很多研究人员以及相关产业的从业人员对纳米材料还不是很熟悉,尤其是如何分析和表征纳米材料,如何获得纳米材料的一些特征信息。该文对纳米材料的一些常用分析和表征技术做了概括。主要从纳米材料的成分分析、形貌分析、粒度分析、结构分析以及表面界面分析等几个方面进行了简要阐述。
使用范围
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；
5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。