显微分析

2024年3月6日，日立高新技术集团旗下的日立分析仪器有限公司（以下简称为“日立分析仪器”）推出了可在NEXTA DSC系列热分析仪上使用的偏光显微镜配件。

NEXTA DSC被用于不同的热分析领域，包括聚合物、制药、电子、化学、学术研究、石油和天然气、食品和金属等，以对热流进行测量从而获得材料特性。其可测量熔点、玻璃化转变和结晶等热性能。

在开发高性能材料的行业和研究设施中，作为日立NEXTA DSC

　　一、项目基本情况

　　1.项目编号：SDDX-SDLC-GK-2023022

　　项目名称：山东大学随机光学重构超分辨显微镜采购

　　预算金额：650.000000 万元（人民币）

　　最高限价（如有）：650.000000 万元（人民币）

　　采购需求：

　　随机光学重构超分辨显微镜采购，具体内容详见电子招标文件。

　　合同履行期限：质保期：国产设备3年，进口设备1年

　　本项目(不接受)联合体投标。

　　2.

透射电子显微镜仪其高的分辨率（0.1~0.2nm），几万到几百万的放大倍数，在观察超微结构（即小于0.2nm）方面具有不可代替的地位，它对于人们认识微观世界有着非常大的帮助，其在材料科学、医学、生物学乃至环境科学等中均有着广泛的应用。1、材料科学方面 纳米材料是指晶粒尺寸为纳米级的超细材料。它具有特殊的表面效应、体积效应及量子尺寸效应等性质，并表现出独特的性能。纳米材料的性质和纳米微颗粒的形状、大小

微量分析一般可分为微量定性分析和微量定量分析，定性分析常采用和显微结晶反应等灵敏度较高的分析方法，定量分析常用重量、容量及仪器等分析方法。在以试样重量不同的分析分类中还有半微量分析和超微量分析等。

　　电子探针显微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全称：电子探针x射线显微分析，是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。适用于分析试样中微小区域的化学成分，是研究材料组织结构和元素分布状态的有效方法。

　　电子探针显微分析是利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X

　　微量分析(Microanalysis)在化学分析中，其试样重量为1-10mg的化学分析方法称为微量分析。有微量定性分析和微量定量分析之分，定性常采用点滴反应和显微结晶反应等灵敏度较高的分析方法，定量分析常用重量、容量及仪器等分析方法。在以试样重量不同的分析分类中还有半微量分析和超微量分析等。