氩离子抛光是一项适用于切割硬的，软的，多孔的，热敏感的，脆的和/或非均质多相复合型材料，获得高质量切割截面，以适宜于扫描电子显微镜（SEM）微区分析（能谱分析EDS，波谱分析WDS，俄歇分析Auger，背散射电子衍射分析EBSD）和原子力显微镜（ AFM）分析。
电离截面检测器(ionization cross section detector)是气相色谱仪中的一种检测器，是一种用于气相色谱分析的放射性离子化检测器，电离截面检测器测定由放射源辐射出的β粒子与载气分子及被测组分碰撞使之电离而产生的电离电流大小的变化，来确定被测组分含量。这种检测器的灵敏度较低。它在高浓度时线性较好，对操作条件不敏感，可以检测所有气体。它的响应值大小可以从已知的离子化有效截面
高纯半导体材料的主要分析方法之一。用同位素中子源和小型加速器产生的通量为1012厘米-2·秒-1以上的中子流辐射被测定样品。中子与样品中的元素发生核反应，生成放射性同位素及γ射线。例如Si+n→Si+γ。用探测器和多道脉冲高度分析器来分析同位素的放射性、半衰期及γ射线能谱，就能鉴定出样品中的痕量元素。中子活化分析法的主要优点是灵敏度高于其他痕量分析方法，可在ppm或ppb的范围内测定周期表中的大