3D测量

日立发布全新纳米尺度3D光学干涉测量系统-VS1800

  2019年3月5日,日立高新技术科学公司在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。

VS1800

  在半导体、汽车、食品、医药品等

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便携式 3D 测量解决方案 为抢占未来科技提速

  分析测试百科网讯 近日,Creaform推出Creaform ACADEMIA:专为研究实验室&课堂环境设计的便携式 3D 测量解决方案。Creaform ACADEMIA为众多有远见的教师和研究人员提供一整套教学套件,以便其使用最新工业技术协同合作、激励与推动创新发展。

  据相关数据统计,在3D打印产业的行业应用方面,工业产品占比达到55%,民用产品较为丰富,占到29%,产值规模不断提

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布鲁克携多款创新产品和解决方案亮相Pittcon 2019

  分析测试百科网讯 2019年3月17日至21日,Pittcon 2019在美国宾夕法尼亚州费城会议中心举行。在Pittcon2019上,布鲁克重点介绍了创新分析仪器系统和多款用于食品分析、制药应用、材料科学研究和质量控制、临床和临床前研究,以及科学软件等应用解决方案。

布鲁克展台

  布鲁克总裁兼首席执行官Frank H. Laukien博士评论道:“我们在Pittcon 2019上推出的创新分析仪

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新品速览 耶拿、JEOL将在Pittcon展发布ICP-MS、TOC、GC等新品

  分析测试百科网讯 举世瞩目的Pittcon 2019即将在美国最古老的城市之一费城召开。分析测试百科网一如既往为您带来Pittcon会议的最新信息。

  首先是德国耶拿新品速览。

  在今年的Pittcon上,德国耶拿凭借一系列高性能仪器以及足以获奖的支持和服务开启了新一年的征程。精确而准确的分析仪器,无论是在质量控制,研究还是常规测试领域,都能提供更好的使用体验。耶拿正在改变AAS,ICP-OES

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日立发布全新纳米尺度3D光学干涉测量系统-VS1800

  2019年3月5日,日立高新技术科学公司在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。

VS1800

  在半导体、汽车、食品、医药品等

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