XRD

JK-CH600190-XRD冷热台

JK-CH600190-XRD冷热台

JK-CH600190-XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式,提供-190~600℃(选型)或RT~1000℃(选型)温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究,适配现有各种X-射线衍射仪(布鲁克、赛默飞、理学等)。

产品需要与温度控制器、致冷控制器(选配)配套

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XRD衍射谱图上的衍射峰对应的晶面该怎么看

在XRD衍射谱图中,衍射峰对应的晶面可以通过物相匹配、晶格常数、晶面指数标记等步骤来识别。要准确识别一个XRD图谱中各个衍射峰所对应的晶面,需要综合运用多种分析方法和工具。衍射峰一般用角度值表示,该值和微观上晶体的晶面间距是对应的,一个晶面间距对应一个特定的角度。当测试多晶,陶瓷时,因为存在晶格异常,偏大或偏小,会使衍射峰变宽。材料结晶越好,峰越窄,反之越宽。

物相匹配:通过衍射峰的位置与标准物质的粉

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什么是四圆XRD测试

一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术。常用闪烁计数器作探测器。入射光和探测器在一个平面内(称赤道平面),晶体位于入射光与探测器的轴线的交点,探测器可在此平面内绕交点旋转,因此只有那些法线在此平面内的晶面族才可能通过样品和探测器的旋转在适当位置发生衍射并被记录。如何让那些法线不在赤道平面内的面族也会发生衍射并能被记录呢?办法是让晶体作三维旋转,有可能将那些不在赤道平面内的晶面族法线转到赤道平面内,让其

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用XRD谱图中的半峰宽计算晶格畸变数据可信吗

个人以为,xrd只能半定量分析,是不太准确。

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矿物分析能用XRD或者XRF测量各个元素含量吗

XRD可以用来半定量分析,XRF经过标样校正后可以定量测元素含量

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XRD、EDX图坐标名称

XRD中横坐标是x射线的入射角度的两倍,纵坐标就是衍射后的强度;EDX中横坐标是能量(KeV),纵坐标X射线的强度。

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