XRD

JK-CH600190-XRD冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。

产品需要与温度控制器、致冷控制器（选配）配套

一种获得X射线单晶体衍射图的实验技术。常用闪烁计数器作探测器。入射光和探测器在一个平面内（称赤道平面）,晶体位于入射光与探测器的轴线的交点，探测器可在此平面内绕交点旋转，因此只有那些法线在此平面内的晶面族才可能通过样品和探测器的旋转在适当位置发生衍射并被记录。如何让那些法线不在赤道平面内的面族也会发生衍射并能被记录呢？办法是让晶体作三维旋转，有可能将那些不在赤道平面内的晶面族法线转到赤道平面内，让其

首先要区别是什么物质的XRD图谱，比如单晶、多晶（粉末）等.峰高：对多晶来说，峰高由同方向排列的晶面分布数量(texture)决定，即：若所有晶粒为同方向排列，则此时各个晶面的峰高要大于无规律排列的晶粒. 而同一图谱中不同峰高则是由每个峰对应的晶面数量决定.另外，如果样品不为纯晶体，而同时存在非晶体的情况下，不同XRD图像同一位置角度对应的 峰高不同则反映了晶体成分的多少. 晶体化程度越高，相应的峰

个人以为，xrd只能半定量分析，是不太准确。

XRD可以用来半定量分析，XRF经过标样校正后可以定量测元素含量

XRD中横坐标是x射线的入射角度的两倍，纵坐标就是衍射后的强度；EDX中横坐标是能量（KeV），纵坐标X射线的强度。